||<style="border-width: 0px; border-bottom-width: 0px; vertical-align: top; text-align: right; color: #BDB76B; width:35%;" tablewidth="98%"> ''' [[V000/IJS|O Institutu]] <<BR>> [[V001/IJS|eNoviceIJS]]'''<<BR>>'''[[Znotraj hiše|Znotraj inštituta]]''' ||<style="border-width: 0px; width:%; text-align: left; color:#BDB76B; border-width: 0px; vertical-align: top; background:#"> [[Raziskovalni odseki]]<<BR>>[[Centri]]<<BR>>[[Službe in podporne dejavnosti]]<<BR>><<BR>>||

||<style="border-width: 0px; vertical-align: top; text-align: right; font-size: 85%; line-height: 150% ; color: #606060; width:35%;" tablewidth="98%">{{attachment:cemm_logo.jpg}} <<BR>><<BR>> ''' Center za elektronsko mikroskopijo in mikroanalizo (CEMM) je infrastrukturna enota IJS, ki združuje analitsko opremo na področju elektronske mikroskopije, ki je nujna za izvajanje razvojno-raziskovalnega dela odsekov IJS. Dostop do raziskovalne opreme CEMM imajo tudi druge raziskovalne institucije in univerze. <<BR>><<BR>> Uporabniki raziskovalne opreme CEMM so predvsem tisti raziskovalci, ki jih zanima celovita strukturna in kemijska karakterizacija anorganskih materialov s številnimi komplementarnimi metodami elektronske mikroskopije, in sicer na mikrometrskem, nanometrskem in atomskem nivoju.   '''<<BR>> ||<style="border-width: 0px; width:65%; text-align: left; color:#404040; vertical-align: top; BORDER-LEFT-WIDTH: 2px; background:#"> <<Include(/Desno)>><<BR>>||

||<style="border-width: 0px; BORDER-top-WIDTH: 1px; text-align: center; color: #000000;"tablewidth="98%">~-Institut "Jožef Stefan", Jamova 39, 1000 Ljubljana, Slovenija, Telefon: (01) 477 39 00, Faks.: (01) 251 93 85<<BR>> info@ijs.si  -~ ||