Na 5. slovenskem posvetovanju mikroskopistov SDM24 je potekal natečaj za najboljšo mikroskopistično sliko. Na naslovnici je nagrajena slika na področju znanosti materialov. Gre za kompleksno mikrostrukturno študijo zvara dveh visoko trdnostnih Al zlitin (Al-Cu-Mg in Al-Cu-Mg-Zr). Na sliki je prikazan detajl kristalne strukturne zlitine s paralelnimi defekti, posnetim v HAADF tehniki na novem »state of the art« vrstičnem presevnem elektronskem mikroskopu Spectra 300, instaliranem v novih prostorih IJS. Spectra 300 je state-of-the-art raziskovalna oprema zadnje generacije presevnih elektronskih mikroskopov in omogoča celovito strukturno in kemijsko karakterizacijo materialov na atomskem in sub-atomskem nivoju. Mikroskop ima FEG izvor elektronov, korektor sferične aberacije in monokromator, kar omogoča izvajanje različnih tehnik presevne elektronske mikroskopije. TEM priprava vzorca in analiza je avtorsko delo dr. Sandre Drev s Centra za elektronsko mikroskopijo in mikroanalizo Instituta "Jožef Stefan" v sodelavi s Fakulteto za strojništvo UL.